Поиск

Начните вводить название книги или автора

Мы покажем подходящие товары сразу после ввода.

Контакты

📞 +7 (999) 123-45-67

✉️ hello@libra-antiqua.ru

График

🕰 пн‑сб 11:00 – 19:00

📍 Россия, Москва

Новинка

Характеристики

Нет в наличии
Автор
Цербст М.
Состояние
Отличное
Артикул
1573133713
Вес
300 г

Отзывы о товаре

Пока нет отзывов — станьте первым, кто поделится впечатлением.

Похожие издания

Рецензия

Нажмите «Получить», чтобы сервис DeepSeek подготовил свежий взгляд на книгу.

Описание

Систематизированы сведения о современных методах измерения параметров и испытаний полупроводниковых приборов, интегральных микросхем и оптоэлектронных элементов. Рассмотрены перспективные способы определения характеристик изделий электронной техники, в том числе силовых полупроводниковых приборов. Приведены схемы автоматических контрольных устройств и измерительных станций.

Для инженерно-технических работников в области электронно-измерительной техники, студентов вузов и широкого круга читателей, интересующихся вопросами качества электронных приборов.