Книга содержит наиболее интересные работы, отражающие современное состояние теории и практики надежности интегральных микросхем, транзисторов, резисторов, конденсаторов, магнитомеханических фильтров, контактных соединений и систем. Рассмотрены проблема надежности и перспективы ее развития на ближайшие годы. Приведено много полезных сведений об интенсивности отказов и физических методах анализа дефектов. Значительное внимание уделено описанию неразрушающих методов контроля с использованием растрового электронного микроскопа, инфракрасных устройств визуализации теплового излучения, а также анализу шумов полупроводниковых приборов. Большое количество иллюстраций обеспечивает наглядность излагаемого материала.

Книга адресована специалистам в области разработки и эксплуатации радиоэлектронной аппаратуры и вычислительной техники и инженерно-техническим работникам подразделений надежности различных отраслей народного хозяйства.