Предзаказ
Описание
Систематизированы сведения о современных методах измерения параметров и испытаний полупроводниковых приборов, интегральных микросхем и оптоэлектронных элементов. Рассмотрены перспективные способы определения характеристик изделий электронной техники, в том числе силовых полупроводниковых приборов. Приведены схемы автоматических контрольных устройств и измерительных станций.
Для инженерно-технических работников в области электронно-измерительной техники, студентов вузов и широкого круга читателей, интересующихся вопросами качества электронных приборов.
Для инженерно-технических работников в области электронно-измерительной техники, студентов вузов и широкого круга читателей, интересующихся вопросами качества электронных приборов.
Характеристики
Автор на обложке
М. Цербст
ISBN
5-283-02474-1, 3-540-15878-2
Тип книги
Букинистика
Издательство
Энергоатомиздат
Количество страниц
320
Формат издания
84x108/16
Автор
Цербст М.
Язык издания
Русский
Тип обложки
Твердый переплет
Переводчик
Храменков В. Н.,
Сычев Е. И.
Тираж
50000
Год выпуска_4081
1989
ТН ВЭД коды ЕАЭС
4901990000 - Прочие печатные книги, брошюры, листовки, аналогичные печатные издания, сброшюрованные
Отзывы
